Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800

Волнодисперсионный спектрометр Lab Center XRF-1800 компании Шимадзу расширяет сферу применения волнодисперсионных рентгеновских спектрометров

• Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U на рентгеновском спектрометре XRF-1800 за 2,5 минуты
• Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм
• Локальный анализ в точке Ø 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры
• Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент)
• Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий
• Уникальная система пробоподачи образца